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DF4810晶体管测试仪操作说明书


XXXXXXXXXX 有限公司

工作说明书

文件编号:XX-XX-XX 版次:2.0

制定日期:XX-XX-XX 页次:- 1 -

档案名称:DF4810 晶体管测试仪操作规程

DF4810 晶体管测试仪操作说明书
一、 目的 正确指导 DF4810 晶体管测试

仪操作规程的操作、使用、维护保养。 范围 本规程适用于本公司检验/生产过程中使用的 DF4810 晶体管测试仪操作规程的操作

二、

示波管控制电路

X/Y 放大器

阶梯信号

校准信号

(图一)前面板单元划分图

(图二)测试台

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1、 示波管及显示电路 辉度(R722) 它是通过改变示波管栅阴之间的电压来改变发射电子的多少来控制辉度,使用的辉度应适中。 聚焦(R720) ,辅助聚焦(R726) 相互配合调节,使图像清晰。

辅助聚焦 R726

聚焦 R720

辉度(R722)

电源指示

(图三)示波管及显示部分

2、 Y 轴作用 电流/度开关(S201) 它是一种具有 22 档四种偏转作用的开关。集电极电流 IC:0.5uA/div-1A/div 共 20 档,是通过 R201-R220 集电极 电流取样电阻的作用,将电流信号转化为电压信号后,经 Y 轴作用放大后取得读测电流偏转值。相互配合调节, 使图像清晰。 二极管漏电流 IR0.05uA/div-1uA/div 共五档,是通过 R221-R225 二极管漏电流取样电阻将电流转化为电压, 经 Y 轴作用的放大而取得读测电流的偏转值。 基极电流或基极电压,有阶梯取得电阻 R466,R226 分压,经方法而取得基极电流偏转值。 外接输入。 Y 轴方式开关 S201,用“+” “-”极性测量,接地时配合 S104 可进行放大器的敏感度校准。 移位(R116) ,使被测信号或集电极扫描线在 Y 轴方向移动。 增益(R120) ,用以放大器放大量的校准。

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Y 移位 R116

电流/度 S201

Y 增益 R120

Y 外接插孔

(图四)Y 轴作用选择 3、 X 轴作用 电压/度开关(S201) 它 是 一 种 具 有 22 档 地 中 偏 转 作 用 的 开 关 。 集 电 极 电 压 Vc : 10mV/div-50V/div 共 12 档 , 是 通 过 R301-R312,R322-R333 分压电阻,已达到不同灵敏度的偏转目的,当开关置 500V/div 时,可进行 5KV 内二极管 反向二极管反向电压的测试。 基极电压 VBE:10mV/div-1V/div 共 7 档,通过 R313-R319 分压,以达到不同灵敏度的偏转目的。 基极电流或基极源电压,由阶梯取样电阻 R467,R320 分压,经放大器而取得基极电流偏转值。 外接输入。 X 方式开关 S102, 用“+” “-”极性测量,接地时配合 S104 可进行放大器的敏感度校准。 移位(R154) ,使被测信号或集电极扫描线在 X 轴方向移动。 增益(R159) ,用以放大器放大量的校准。 X 增益 R159 电压/度 S301 X 外接插口

X 位移 R154

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4、 集电极电源 峰值电压范围 S602,通过自藕变压器 T601 调节和集电极电源变压器 T602 高压变压器 T603 次级各组电压整 流后分出 0-10V(5A) ,0-50V(1A) ,0-100V(0.5A) ,0-500V(0.1A) ,0-5KV(5mA) ,0-500V(AC) ,6 档。观察晶体管的特性时,必须先将峰值电压 T601 调至 0 值,再按需要调节输出电压,以避免损坏被测晶 体管。 0-500V(AC)档的设置专为二极管或其他测试提供双向扫描,能方便的同时显示二极管的正反向特性曲线。 0-5KV 档,可对二极管 0-5KV 内进行反向耐压测试。 极性 S601 开关可以转换集电极电压的正负极,以便 NPN 和 PNP 型晶体管的测试。 峰值电压 T601 通过峰值电压调节,可以使输出电压的峰值在 0-5V/0-50V/0-100V/0-500V/0-5KV 之间变化,面板上的标称值 只作近似值所用,精确的读书应由 X 轴偏转灵敏度读测。 功耗限制电阻(S603) 它是串接在被测管的集电极电路上限制超过功耗,也可作为被测半导体集电极的负载电阻,通过图示仪的特 性曲线簇的斜率,可选择合适的负载电阻阻值。 电容平衡 R608 由于集电极电流输出端对地的各种杂散电容的存在,将形成电容性电流,因而在取样电阻上产生电压降,造 成测量上的误差,为了测量的精确,可通过 R608 的调节,使容性电流减至最小状态。 辅助电容平衡是针对集电极变压器 T602 次级绕组对地电容不对称进行调节后,再次进行电容平衡调节。

电容平衡 R608 功耗限制电阻 S603 峰值电压范围 S602 极性 S601 峰值电压%T601 0-5KV 接通 S604 高压指示 H601 辅助电容平衡 R601 保险丝 F601

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5、 阶梯信号 极性 S402 极性选用取决于被测半导体器件需要。 极/簇 R434 用来调节阶梯信号的级数,在 1-10 级范围内连续可调。 调零 R446 未测试前,应先调整阶梯信号起始级,零点位的位置。当荧光屏上已显示基极阶梯信号后将 S503 开关置于 “零电压” ,观察光点停留在荧光屏上的位置,复位后调节“调零”电位器,使阶梯信号的起始级光点仍在 该处,这样阶梯信号的“零电位”即被转却校准。 阶梯选择开关是一个具有 22 档,两种作用的开关。 基极电流 0.5uA/级-100mA/级,共 17 档,其作用是通过改变开关的不通档级的电阻值(R507-R523)使基极 电流按 0.5uA/级-100mA/级,各档级内的电流通过被测晶体管。 基极电压源 0.05V/级-1V/级,共 5 级,其作用是通过 R501-R505 与 R506 的不同反馈电压相应输出 0.05V/级 -1V/级的电压。 重复、关、单次 S401 重复:使阶梯信号重复出现,作正常测试。 关:关的位置是阶梯信号处于待接触发状态。 单次按开关 S401 单次的按动是使预先调整好的电压(电流)/级,出现一次阶梯信号后回到等待触发位置,因此可利用它的瞬 间作用特性来观察被测管的各种极限特性。 串联电阻 S504 当阶梯选择开关 S501 置电压/级位置时,串联电阻将串联接在被测管的输入电路中。 测试选择开关 S504 测试选择开关可任意测试左右两个被测管的各种特性,当置“双簇”时即通过电子开关自动交替显示双簇特 性曲线,当双簇测试异极性晶体管时,应将 PNP 管插入左测试座,NPN 管插入右测试座。将光点通过 Y 移 位调到屏幕中间然后进行测试。可视需要改变双簇移位电位器 R153 的位置,双簇测试时阶梯电流以 10uA-50mA/级为宜。 调零 R445 极性 S402 方式 S401 输入 S503 串联电阻 S502 阶梯选择 S501 校准信号 0.1V 双簇移位 R153 测试选择 S504 极/簇 R434 拟 制 日 期 审 核 日 期 批 日 准 期

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三、

操作规范

1. 开机预热 15 分钟,调节辉度、聚焦及辅助聚焦,使光点清晰。 2. 将峰值电压旋钮调至零,峰值电压范围、极性、功耗电阻等开关置于测试所需位置。 3. 对 X、Y 轴放大器进行 10 度校准。 4. 调节阶梯调零。 5. 选择需要的基极阶梯信号,将极性、串联电阻置于合适挡位,调节级/簇旋钮,使阶梯信号为 10 级/簇,阶 梯信号置重复位置。 6. 插上被测晶体管,缓慢地增大峰值电压,荧光屏上即有曲线显示。

四、

注意事项

1. 对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计,特别要了解被测管的集电极最大允许耗散功率 PCM、 最大允许电流 ICM 和击穿电压 BVEBO、BVCBO 。 2. 选择好扫描和阶梯信号的极性,以适应不同管型和测试项目的需要。 3. 根据所测参数或被测管允许的集电极电压,选择合适的扫描电压范围。一般情况下,应先将峰值电压调至零, 更改扫描电压范围时, 也应先将峰值电压调至零。 选择一定的功耗电阻, 测试反向特性时, 功耗电阻要选大一些, 同时将 X、Y 偏转开关置于合适挡位。测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。 4. 对被测管进行必要的估算,以选择合适的阶梯电流或阶梯电压,一般宜先小一点,再根据需要逐步加大。测 试时不应超过被测管的集电极最大允许功耗。 5. 在进行 ICM 的测试时,一般采用单簇为宜,以免损坏被测管。 6. 在进行 IC 或 ICM 的测试中,应根据集电极电压的实际情况选择,不应超过本仪器规定的最大电流 7. 进行高压测试时,应特别注意安全,电压应从零逐步调节到需要值。观察完毕,应及时将峰值电压调到零。

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