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TFT-LCD 电测驱动方式


TFT LCD 液晶顯示器的 驅動原理

Outline
廠內LCD種類 LCD 等效電路 廠內使用點亮畫面波型介紹

廠內三大不良介紹





L

C

D





1.CS ON COM 2.CS ON GATE 3.SCAN DRIVER

儲 存 電 容 的 結 構

Pixel Structure of TFT LCDs
Sm Gn

Sm Gn

Cst

Clc COM

Gn+1

整塊面板的電路架構從圖中可以看 到整片面板的等效電路,其中每一 個TFT與Clc跟Cs所並連的電容代 表一個顯示的點。

Cst

Clc COM

Gn+1

6 PA D

LCD

等效電路

Go

Do

SW

Vcom Ge

De

Gate line short Improvement
?

原先GATE PAD只有單一odd及單一even的設計下,若是在進行cell test的過程中,gate走線有defect存在,以致於造成短路現象發 生;但,由於兩側各為一odd一even的方式進行測試,所以無法在 cell test測試段將此一defect發現,如圖(一)所示。

圖(一)2 gate pads design & defect effect

Odd

Even









將單點odd pad及單點even pad之設計改為,雙點odd pads和雙點even pad,如圖(二)所示。所以將單邊設計之一個gate odd/even pad改 成兩個gate odd/even pads來進行短路現象之篩選。

Odd_1 Odd_3

Even_4 Even_2

圖(二)4 gate pads design

8 PA D

LCD

等效電路

Go2 Go1

Do

SW

Vcom Ge1

De

Ge2

8 PAD LCD電測問題點
8 pads的設計方式後,當進行cell test時,點亮一全 灰階畫面,則可以發現畫面呈現一灰一白,一灰一白具 層次的色差行為存在,如圖(三)所示。

圖(三)點亮一灰階畫面之顯示效果---8 pads design

8

PA D 衍 生出 Li ne 輝度不 均

D817 D709
switch
switch odd2 odd1 odd1 odd2 even2 even1 even1 even2

D709 : 各data line皆有 ITO 跳接

D817 : date line 有/無 ITO 跳接 , 造成阻值不同 , 因而產生 Line 輝度不均

Cell Test Waveform
Vs

Vg
G Source 線

Gate 線

Cgd
D Cst

S

CLC Com

面板極性變換方式
對於同一點而言,它的極性是不停的變換的。而相鄰的點是否擁有相同的極性,那可 就依照不同的極性轉換方式來決定了。首先是frame inversion,其整個畫面所有相鄰 的點,都是擁有相同的極性;而row inversion與column inversion則各自在相鄰的行與 列上擁有相同的極性;另外在dot inversion上,則是每個點與自己相鄰的上下左右四 個點,是不一樣的極性

C S 全

O N

C O M 黑

跨接在CS電容上的電壓為+-4V

C S 半

O N 灰

C O M 階

跨接在CS電容上的電壓為+-2V

C S 全

O N

C O M 白

跨接在CS電容上的電壓為0V

C S 直

O N B

C O M A R

C S 橫

O N B

C O M A R

畫面

所篩選不良

全黑

亮點、斷線、短路、PI、輝度不均、水痕、殘影、畫 面異常、交叉短路

灰階

亮點、斷線、PI、輝度不均、水痕、畫面異常、交叉 短路

全白(放電)

直BAR

亮點、斷線、DD短路、輝度不均、短路

橫BAR

亮點、斷線、GG短路、輝度不均、短路

END


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