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IC测试设备


数字电路测试系统 美国 Credence 公司 Electra MSR 100MHz 台湾德律 TR-6010 逻辑测试系统 日本 VTT 公司 V777 大规模集成电路逻辑测试系统 安捷伦 83000 数字电路测试系统 混合信号电路测试系统

SOC 器件测试系统 安捷伦 93000 SOC 测试系统 Teradyne J971 Teradyne J973

LCD 器件测试系统

存储器测试系统 美国 Credence 公司 Electra MSR 100MHz Teradyne Integra J750 Test System LTX Synchro/Fusion HT LTX Fusion RF SZ M3650 模拟电路测试系统 Teradyne Catalyst RF Agilent Hp93000 RF 测试座及夹具 RFIC 器件测试系统 Sytest Q2-52

台湾德律 TR-6800 电源管理器件测试机 Teradyne A585/A575

通用测试座 LTX TS80/88 特殊夹具

测试机接口板

Electra MSR 100MHz 客户定制型 V777 测试通道扩展板-- CECC 设计制作 V777 测试通用接口板-- CECC 设计制作 IMS100 用户定制型接口板-- CECC 设计制作

美国 Credence 公司 Electra MSR 100MHz

美国 Credence 公司 Electra MSR 100MHz

概 述

100MHz 量测速率的功能验证性设备,具有 Funtional Pattern 产生、
仿 真、测试, DC 参数 量测等功能。

非常适合 IC 设计公司进行样片芯片验证性测试及分析

特性:

4M 的向量存储深度/通道完整的功能 Pattwen 和 DC 参数测试系统 UNIX 系统的操作软件,可视化友好界面 Shmoo Plot 工具, 用于器件特性分析 可连接 LABVIEW 辅助性工具 直接连接到工作站服务器
系统规格

时钟频率:100 Mhz 数据速率: 200 Mbits/Sec 1.5 ns 的上升和下降时间( ECL、CMOS 电路) 每个管脚的电压和负载可编程 每个管脚可编程边缘分辨率 50 ps 7 bits per Channel for Simultaneous Real-time Compare and Data Acquisition 时钟线形稳定,偏差 ≦±100 ps
系统软体功能

系统偏差≦±1ns (ATS1) 每个管脚可选用直流精密测量单元 Window、Edge 和 Dual-Edge 采样 128 个 I/O 管脚 (ATS1) APMU:直流精密测量单元 2.1 Gb 扩展图形存储器 PCI-GPIB 和 PCI-VXI 接口板 Sun Ultra 10 工作站

TestEnv:基于 Xwindows 的测试软件环境,包括 IMS Screens、 IMS-Shmoo、TestLITE 和 MATSS 测试服务器
系统模组 Module

IMS-Link:提供脱机向量转换软件编辑能力和通用仿
真器支持

TestVIEW (V7.2e) :图形测试编程语言

Control Module x1 Timing module x1
Socket Card 种类及数量

Data module x8 Analytical DC PMU module x1

DIP Auto Socket Card 40 *1 ATS1/MSTS1 Anolog Interface Board *1 Force Autocal Interface Board *1 Open Custom DUT Interface Board *13

ATS1/MSTS Fixture Board *1 Force Autocal *1 Compare Autocal *1 IMS Adapter Board *1

台湾德律 TR-6010 逻辑器件测试机

概述:

专为 10MHz 逻辑 IC 测试机, 具有 Function Pattern 测试, Dc
参数量测等功能 硬件结构:

特性:

2M 的向量存储器深度 可 4 组并行测试 完整的功能 Pattwen 和 DC 参数测试 驱动电压:+-8V,比较电压:6V
资源配置:

具有 Shmoo Plot 工具, 用于器件特性分析 测试程序调试工具 完善的测试诊断报告和柱状图 TTL 和 GPIB 接口, 可直接连接至 prober 和 handler 紧凑小型,易安装

测试控制器:奔腾 III 以上 PC 系统软件:MS-DOS
性能参数:

电源要求:(1)单相交流,AC 110V 10A /50-60Hz
(2)单相交流,AC 220V 6A /50-60Hz

测试频率: 10MHz 周期速率: 100nS-1.31mS 周期分辨率: 20nS 测试通道: 最大 128 个 多组测试: 2/4 组并行测试 定时器: 4Pins/TG 定时器分辨率: 10nS
PMU:1 组/板卡,最大 8 组 施加电压/ 测量电流范围: 级别 0 1 2 3 电压 10V 10V 10V 10V 精确度 +%+-5mV +%+-5mV +%+-5mV +%+-5mV 分辨率 2.5mV 2.5mV 2.5mV 2.5mV

闸门模式: 边沿式 测试向量深度: 2M 驱动器: VIH: +-8V 分辨率:5mV VIL: +-8V 分辨率:5mV 比较器:VOH: +-8V 分辨率:5mV VOL: +-8V 分辨率:5mV

HVPMU:2 组/板卡,最大 16 组 施加电压/ 测量电流范围: 施加电流/ 测量电压范围:

施加电流/ 测量电压范围:

日本 VTT 公司 V777 大规模集成电路逻辑测试系统(一)

概 述 个测试通道,

10MHz 的测试频率,128

4M 字节向量深度的大规模 LSI 测试系统 系统尺寸

主框架 :580(W),750(D),1200(H)或 1850(H)毫米 测试头 :580(W),340(D),250(H)毫米 电缆长度 :4 米

测试器控制器

接口板

处理器 AMD-K6-500 操作系统 MS/DOSV 内存 32MB 硬盘 4.0GB 软盘 3.5 英寸 1.44MB
软件包 TURBO C)

标准接口板 针 对探针机和机械手 GPIB 接口板 选项
PIN 电子性能

标准 64 PIN 全系统 128 PIN 或 64PIN*2DUTS 语言 C (库: 测试程序转换器
ANDO-SUMMIT 至 V7100 (主程序和波形程序) SENTRY 至 V7100 (波形程序) CREDENCE-SC212 至 V7100 (波形程序) ADVANTEST-MOSPL 至 V-7100 (波形程序)

工具软件 SCHMOO
HISTOGRAM WAFERMAP 驱动器

输出电压 VIH 0V 至 +11V VIL -2V 至 +8V 电压摆幅 100mVp-p 至 11Vp-p 精度 0.5% + 5mV 分辨率 2.7mV 最大 DC 电流输出="H"±20mA 输出 = "L"±20mA 阻抗 50 ± 5%ohm 升 / 降 时间 驱动器模式 < 5ns/5Vp-p
(20% 至 80%) I/O 模式 < 5ns/5Vp-p

总时钟精度 (NRZ 格式 ) ±5ns ( 最大 ) 时滞 (NRZ 格式 ) 有关 PINS ±5ns ( 最

大 ) 有关 TGS ±4ns ( 最大 ) 上突波 / 下突波 3%+50mV VIH/VIL 级别 4 级别 驱动器模式 FIX-HI, FIX-LO, NRZ, /NRZ, RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR, 无调制 时钟的限制 参照图 1 条件: 10Mohm 和 15pF 载荷

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日本 VTT 公司 V777 大规模集成电路逻辑测试系统(二)

安捷伦 83000 数字电路测试系统

描述: 特性和用途:

用于 Credence 的 Electra MSR 100MHz 机台上,根据客户器
件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板,有效解决高 速信号干扰之问题。 规格: 长(L) * 宽 (W) * 厚 (H)

安捷伦 93000 SOC 测试系统

概述

测试系统具有数字、模拟、存储器、射频(RF)模块(可 选
件)的功能测试和参数测试

支持扫描测试 支持 IDDQ 测试 测试系统具有可升级性和可扩展性

参数:

(1)系统控制平台 )

HP C3750 UNIX 工作站 内存 2GB 硬盘 36GB HP p1130 21”高分辨率纯平彩色显示器 配备 DVD 光盘驱动器 配备磁带机 配备 10M/100M Ethernet 接口 操作系统 HP-UX B11.11
(2)数字功能指标 )

数字化仪,精度:12-bit, 采样速率:320MHz 采
样/s;

时间间隔分析仪(TIA),输入频率:400MHz。 。
(4)DC 测试性能 )

通用器件电源,参数:±7V/8A 低噪声电源,参数:±8V/4A 精密测量单元,最大电压量程: -5V— +8V,电压分辨
率: 250uV,最大电流量程: ±200mA,电流分辨率: 250pA

数字通道 : 256 数据速率 :660Mb/s 向量存储深度 :14M 扫描存储器深度 :56M 边沿定位精度 ≤ 土 150 ps
(3)模拟部分 )

参数测量单元 PMU,量程: -2V— +7V, 40mA IDDQ 电流测量,精度≤100nA,分辨率≤10nA
5)测试软件 )

SmarTest Rev. 4.1.6/4.2.5 SmarTest Program Generator Rev. 1.2.0 VCDTO93K Edition 2.0

任意波形发生器(AWG),精度≥12-bit, 频率: 500MHz
采样/s;

安捷伦 93000 SOC 系列模块配置表 模块 数 字 通 道 C400 P600 描述 660Mbit/s 数字通道 数量 16 位置 10101~ 10116 10201~ 11616 230 主要指标 最高数据速率:660Mbit/s 最大时钟频率:625MHz? 扫描深度:56M 最高数据速率:400Mbit/s 最大时钟频率:400MHz? 扫描深度:14M 分辨率:12bit 1 采样速率:8ksps 到 500Msps 分辨率:12bit WDD 1GHz 数字化仪 1 227 采样速率:1Msps 到 320Msps 最大带宽:1GHz(采样仪模式) TIA 400MHz 时隙分析仪 最高输入频率:400MHz 1 225 分辨率:0.8ps 驱动能力:±7V/+8A,-4A ? ±8V/±4A Vbump, IDDQ 功能 驱动能力:8V/4A,-8V/-2A LNDPS 超低噪声电源 2 DPS81~82 输出噪声:< -80dBm Vbump, IDDQ, 交流调制 交流调制功能 详情

400Mbit/s 数字通道

240

WGD 模 拟 模 块

500M 任意波形发生器

GPDPS 电 源

通用器件电源

4

DPS11~14


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