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SEA1000A系列中文操作手册-HS测量(ver2.1)


SEA1000A Series 桌上型 X 射線螢光光譜儀 簡?中文操作手冊(ver2.1)

248 台?縣五股工業區五權二? 11 號五? TEL: 02-89901779 FAX: 02-89902559

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目 ?
一、標準操作程序(S.O.P.)步驟 --------------------------------------------------2 A. 開機標準程序 -----------------------------------------------------------4 B. 塊體分析(檢?線)標準程序------------------------------------------------5 C. 塊體分析(FP)標準程序----------------------------------------------------6 D. 關機標準程序------------------------------------------------------------7 二、定性分析之功能?明 A. 概述 ------------------------------------------------------------------8 B. 界面?明 ---------------------------------------------------------------8 C. 定性分析標準程序 -------------------------------------------------------9 D. 比較與重疊功能 --------------------------------------------------------10 三、常規測?之功能?明 A. 常規測?標準程序-------------------------------------------------------12 B. 批次功能輸出程序-------------------------------------------------------14 C. 測?檔案之轉檔方法-----------------------------------------------------15 四、塊體分析(FP 基本??法)條件設定 A. 塊體分析(FP)視窗按鈕介紹 ----------------------------------------------17 B. 分析條件設定 ----------------------------------------------------------18 C. 測?條件設定 ----------------------------------------------------------21 五、塊體分析(檢?線)條件設定(Cd,Pb,Hg,Br,Cr) A. 塊體分析(檢?線)視窗按鈕介紹 ------------------------------------------23 B. 分析條件設定 ----------------------------------------------------------24 C. 標準物質輸入 ----------------------------------------------------------27 D. 測?條件設定 ----------------------------------------------------------28 E. 樣品分析輸出實? ------------------------------------------------------29 ?、標準曲線的確認及?新 -----------------------------------------------------33 七、管?值的登記與?改 -------------------------------------------------------35 八、HS 測?之應用?明 A. HS 測?按鈕介紹 ------------------------------------------------------36 B. HS 測定步驟 ----------------------------------------------------------37 C. HS 測?檔案之轉檔與設定 ----------------------------------------------38 九、校正程序 A. 能?校正 -------------------------------------------------------------40 B. 解析?校正 ----------------------------------------------------------41 C. 強?校正 -------------------------------------------------------------42 D. 照射口徑校正 ---------------------------------------------------------43

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十、附? 附?一、環境設定之功能介紹 ---------------------------------------------45 附?二、HS 測?輸出報告的製作與修改 ------------------------------------47 附?三、Pb 受 As 干擾之處?方案(塊體分析檢?線) --------------------------52 附?四、如何儲存多重能譜 -----------------------------------------------56 附?五、應用 X 射線螢光分析儀(XRF)?測各種樣品之分析方法建議 ------------57 附??、SEA1000A 故障處??程 -------------------------------------------59

注意與建議事項
1.請勿將物品擺放於儀器設備之上,避免因開啟時,物品掉入儀器內部. 2.建議勿接網?,並安裝防毒軟件. 3.請定期將?測?據備份

日常保養事項
1.?用氣槍清潔儀器下方之風扇?棉 2.使用酒?擦拭儀器內部 3.使用酒?或清水擦拭儀器外部 4.建議一週?換一次圓形 Mylar.

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一、標準操作程序(S.O.P.)的步驟
開機

確認儀器環境?況: (1)能?校正 (2)解析?校正 (3)強?校正 (4)照射口徑校正

NO 重新校正

YES 確認標準曲 線準確性 YES NO 重新校正

選擇分析方法

常規?測

塊體分析(檢?線)

塊體分析(FP)

HS 測?

開始?測

輸出報告: (1)WORD (2)EXCEL

?測完畢 關機
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A、開機標準程序
步驟 1 2 3 4 5 6 7

操作?明 打開位於儀器主機右後方的電源開關「ON」。 請按主機右下方的『Power』開關(?色),請確認開關確實變成?色。 (如果開關?是在?色?態的話,請確認主機電源是否在 ON 的?態。) 打開電腦螢幕和電腦的電源。 打開印表機的電源。(?未使用,則無需開啟) 啟動『X-ray 軟體』- (通常在電腦開機時,會自動開啟軟體) 確認 X-ray 軟體啟動之後,將測?系統右下方的『X-RAY』鑰匙向右旋轉,使其成水平 ?態。(紅色指示燈變?) 『X-RAY』鑰匙向右旋轉後,軟體的左下方會出現「可進?測?」,此時 X 射線到達 安定?態需等待約「30 分鐘」。

操作 按鈕

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B、塊體分析(檢?線)標準程序
步驟 1 2 3 4

操作?明 請按『應用選擇』,再按『塊體分析(檢?線)』按鈕。 請按樣品室 OPEN 按鈕(正面的圓形按鈕),以打開樣品室蓋。 按 『影像視窗』 按鈕觀察樣品,一邊觀察樣品,一邊將樣品放置在測?區域的中央位置。 用手將樣品室蓋往下壓,直到樣品室蓋蓋上為止。(蓋好時會聽到蓋合聲:卡) 請從樣品觀察視窗(CCD 畫像)確認樣品的放置?態。(樣品應置位於樣品室的中央位置) 按「開啟分析條件檔案」,選擇符合目的的分析條件,按『確定』。

操作 按鈕

5

● 分析塑膠及 Al,Mg 合?等非?屬的情況 →選擇『P1000.bcc』檔案。(C:\XRAY\ANA\P1000.bcc) ??需要?換?測檔案,則無需做此項

6

按『開始測?』按鈕,系統即自動開始進?測?。 按『影像視窗』按鈕,調整明??及呈現比?,以?觀察樣品。

7

8

按『分析報告』按鈕,將分析條件、標準樣品、樣品影像、樣品分析能譜及測試結果, 一併傳送到 WORD 軟體中輸出。

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C、塊體分析(FP 基本??法)標準程序
步驟 1 2 3 4

操作?明 請按『應用選擇』,再按『塊體分析(FP)』按鈕。 請按樣品室 OPEN 按鈕(正面的圓形按鈕),以打開樣品室蓋。 按 『影像視窗』 按鈕觀察樣品,一邊觀察樣品,一邊將樣品放置在測?區域的中央位置。 用手將樣品室蓋往下壓,直到樣品室蓋蓋上為止。(蓋好時會聽到蓋合聲:卡) 請從樣品觀察視窗(CCD 畫像)確認樣品的放置?態。(樣品應置位於樣品台的中央位置) 按「開啟分析條件檔案」,選擇符合目的的分析條件,按『確定』。

操作 按鈕

5

● 分析?屬的情況 →選擇『M1000.bfp』檔案。(C:\XRAY\ANA\M1000.bcc)

??需要?換?測檔案,則無需做此項.
6

按『開始測?』按鈕,系統即自動開始進?測?。 按『影像視窗』按鈕,調整明??及呈現比?,以?觀察樣品。

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8

按『分析報告』按鈕,將分析條件、標準樣品、樣品影像、樣品分析能譜及測試結果, 一併傳送到 WORD 軟體中輸出。

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D、關機標準程序
步驟 1 2 3 4 5 6 7 8 9

操作?明 『X-RAY』鑰匙向左旋轉後,使其成縱方向?態「OFF」,軟體的左下方會出現『X 射 線關閉』訊號,此時 X 射線已關閉。 按測?系統的右上角的『結束軟體』按鈕,關閉 X-ray 軟體。 按電腦視窗左下角的『 按『關機』按鈕。 關閉電腦螢幕的電源。(是否關閉,端看客戶?況) 關閉印表機的電源。(?未使用,則無需關閉) 請按在測?系統的右下方的『Power』開關(?色),使?燈熄滅。 關閉位於儀器測?系統主機右後方的電源開關「OFF」。 完成關機作業。 』按鈕。

操作 按鈕

※ 基本上儀器與電腦是獨?的,?需繼續使用電腦,可單獨將儀器關閉;而儀器之關機程序仍相同。 ※ ??日以上?使用此設備,則請關閉儀器後方開關,?每日皆會使用,則可?用關閉。

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二、定性分析之功能?明 A、概述
1.功能與用途 a.樣品材質的分析 b.樣品材質的比較與判斷 2.?明
能譜好比樣品的指紋,如果材質發生變化能譜圖一定有差?。SEA-1000A 可以將?個能譜進?比對, 以?判斷其所含有元素的差?,並進?管控.

B、界面?明

A 能譜區 能譜區

縮放?塊

B 能譜區

能譜比對區

詳細信息顯示區

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C、定性分析標準程序
步驟 1 2 3 4

操作?明 請按『應用選擇』,再按『定性分析』按鈕。 請按樣品室 OPEN 按鈕(正面的圓形按鈕),以打開樣品室蓋。 按 『影像視窗』 按鈕觀察樣品,一邊觀察樣品,一邊將樣品放置在測?區域的中央位置。 用手將樣品室蓋往下壓,直到樣品室蓋蓋上為止。(蓋好時會聽到蓋合聲:卡) 請從樣品觀察視窗(CCD 畫像)確認樣品的放置?態。(樣品應置位於樣品台的中央位置) 按『測?條件』,出現以下視窗

操作 按鈕

5

?測時間-依需求,建議最少 100 秒. (範圍 1~9999 秒) 口徑-建議使用 5mm (有 5mm 與 1mm 可供?換) X 射線管電?-建議使用自動設定即可.(手動則從 20uA~1000uA) 電壓與?波器-電壓與?波器設定,請?照附?一 (依欲?測的元素?設定,??知,則使 用原廠設定即可.原廠設定-50kV、Pb 用?波器)
6 7 8 9

按『開始』鍵,即開始?測 ?測完畢後,按『自動辨別』鍵,得知樣品之組成。 按『元素標記』鍵,確認各元素波峰位置 ?要輸出 Word 報告,請按『輸出報告』鍵,

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D、比較與重疊功能
用途:?用比較與重疊功能去?解樣品之間的差?,以做分析. ?如:1.?同樣品之元素組成比較. 2.同?號?同批次之組成比較
步驟 1

3.電鍍或烤漆前後比較.
操作 按鈕

操作?明 點選『分散』 出現以下視窗

2

3 4 5 6 7 8

將所欲?測的樣品放入樣品室,點選『影像視窗』,確認好位置後關閉 點選『A 開始』,系統即開始?測 ?測完後,會於上圖紅圈 A 處出現能譜 按『自動辨別』鍵,得知樣品之組成。 將所欲比較的樣品放入樣品室,點選『影像視窗』,確認好位置後關閉 點選『B 開始』,系統即開始?測

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步驟 9

操作?明 ?測完後,會於上圖紅圈 B 處出現能譜

操作 按鈕

10 點選『重疊』,進?比較功能

11

紅圈所示 A 為黑色曲線,所示 B 為?色曲線,此即可比較出其差?
12 點選『能譜差』,即可比較其差?值

13

可於紅圈處確認其差?值
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三、常規測?之功能?明 A、常規測?標準程序
步驟 1 2 3 4 5

操作?明 請按『應用選擇』,再按『常規測?』按鈕。 請按樣品室 OPEN 按鈕(正面的圓形按鈕),以打開樣品室蓋。 按 『影像視窗』 按鈕觀察樣品,一邊觀察樣品,一邊將樣品放置在測?區域的中央位置。 用手將樣品室蓋往下壓,直到樣品室蓋蓋上為止。(蓋好時會聽到蓋合聲:卡) 請從樣品觀察視窗(CCD 畫像)確認樣品的放置?態。(樣品應置位於樣品台的中央位置) 按「開啟常規檔案」,選擇符合目的的分析條件,按『確定』。 ● 分析塑膠及 Al、Mg 合?等非?屬的情況(檔案位置 C:\XRAY\RTN) →選擇『P1000.rtn』 ● 分析?屬的情況 →選擇『M1000.rtn』 選定後,請確認下圖中上方與下方之檔案是否一致.(一般檔名會是一致的)

操作 按鈕

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步驟

操作?明 按『選擇?印標題』輸入適當的印刷標題,按『確定』就準備開始進?測?。

操作 按鈕

6

?欲進?同一點的重複測?,選擇『?測位置/次?』按鈕,即會出現以下的對話視窗:

7

選擇所需測?次?後,按『確定』即可。(??做重覆測?,則可忽?此步驟) ?欲儲存每次?測的能譜,則請勾選在『儲存能譜』前方的空格.
8 9

按『開始測?』按鈕,系統即自動開始進?測?。 點選 『?印(EXCEL)』 按鈕,則每次?測完畢後,結果?據即會自動送到 EXCEL ?印。

『儲存(EXCEL)』 按鈕,則每次?測完畢後,結果?據即會自動送到 EXCEL 儲存。 10 點選

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B、批次功能輸出程序

用途:可單獨將整批次的資?另存於 Excel 檔中.
步驟 操作?明 ?測完後,點選『Lot end』按鈕,出現以下視窗 操作 按鈕

1

按『是』,出現以下輸出條件視窗

2

按前方之空格,選擇所要的輸出條件 選擇『儲存測?結果』時,出現以下視窗

3

於檔案名稱中輸入所欲儲存的檔名
4

點選『儲存』,即完成儲存程序。
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C、測?檔案之轉檔方法
當在塊體分析(檢?線)或者是塊體分析(FP 法)建?新的分析方法時,無法直接在常規?測中被開啟, 必須依照以下的步驟建?捷徑將此方法在常規?測中開啟。 ?如,現在已經在塊體分析(FP 法)建??一個『metal2.bfp』的分析檔案,欲在常規?測中開啟此 『metal2.rtn』的方法如下: 操作 按鈕

步驟

操作?明

1 請按『應用選擇』,再按『常規測?』按鈕。 (1)請按『選擇分析檔案』。出現以下的視窗:

2

(2)在檔案?型中點選『塊體 FP(*.BFP)』,即會出現之前新建?的『metal2.bfp』分析檔 案。?是新建?的分析檔案在 『塊體分析(檢?線)』 中時,則點選 『塊體檢?線(*.BCC)』 。 (3)點選『metal2.bfp』後,再按『確定』。

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操作?明
步驟

操作 按鈕

(1)點選『儲存常規檔案』。出現以下的視窗:

3

(2)在檔案名稱中輸入『metal2』,然後按『儲存』。此檔案將會存在『C:/XRAY/RTN』 子目?中。 再按「開啟常規檔案」,會出現以下的視窗:

4

在點選『metal2』,即可開啟『metal2.rtn』分析檔案。

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四、塊體分析(FP 基本??法)條件設定

A. 塊體分析(FP)視窗按鈕介紹
開啟分析條件檔案 定性分析(顯示分析能譜) 自動辨別(按 「定性分析」 後 才能使用) 能譜以對? log 顯示 結束這一批的?測,並?印 結果?據 輸出報告,將結果直接轉成 Word 檔案 ?印目前的分析視窗

儲存分析條件檔案

刪除目前分析條件

設定分析條件

開始?測 中止(測試中 需強制中止時 , 使用) 計算分析結果

影像視窗(顯示樣品影像) 主監察器(顯示主機感應器 電壓等?況) 環境設定(顯示定性條件、維 修保養等) 應用選單(顯示分析方法)

輸入標準物質

設定?測條件

標準物質?測鍵

快速計算結果

未知物質?測鍵

管制界限

結束(關閉軟體)

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B. 分析條件設定
步驟

操作?明 按『應用選單』

操作 按鈕

1

2 3

選擇『塊體分析(FP)』 ,即出現塊體分析(FP)視窗。 按『開啟分析條件檔案』 出現「開啟分析條件檔案」視窗

4

原廠出廠前已經針對一般的?屬中有害重?屬做分析,材?的基質(基材)如果是一般的 ?屬可選擇『M1000.bfp』 。亦可依使用者實際需求,選擇所要分析的條件,依下?方 法自?設定分析條件及方法。

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步驟 5 6

操作?明 以 M1000.bfp 為??明「塊體分析(FP)分析條件」及「測?條件」的設定方法: 選取 M1000.bfp 檔案後,按『確定』 。 按『分析條件』 ,出現以下的輸入分析條件視窗:

操作 按鈕

7

點選『自動辨?』後,再按『

』 。

自動辨?: 除所指定欲分析之元素外,?該樣品中含有其它元素,會自動辨別出?. 最適條件: 選定欲分析的元素後,軟體會自動將測?條件設定完成. 指定測?條件: ?未將元素設定測?條件,則軟體將自動設定. 手動設定: 只能對於自?選定的元素作?測,且測?條件需自?新增或刪除.

8

選擇必須分析的元素,?如 Cd、Pb,再按『

』 。

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步驟

操作?明

操作 按鈕

9

選擇濃?的表示單位後,按『確定』 ,即完成分析條件設定。(通常使用 wt%與 ppm) 輸出形式則可選擇到小?點幾位或用整?.

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C. 測?條件設定
步驟 1

操作?明 按『測?條件』設定按鈕。

操作 按鈕

2

按『新增』 ,選擇 X 射線管電壓、第一回?波器及 Collimator。 (基本測?條件中,X 射線管電壓及第一回?波器的選擇設定,可按『環境設定』 ,先進 入環境設定視窗中,?考原廠的建議設定方法) 再按『詳情』 ,進?測?條件的詳細設定。

3

X 射線管電?,建議點選『自動設定』 ,再按『下個條件』 ,每一個測?條件都點選『自 動設定』 ,測?時間未知樣品一般建議「200 秒」 ,標準樣品分析時間設定為「300 秒」 。

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步驟 4 5

操作?明 按『確定』 ,即完成測?條件設定。 再按『儲存分析方法檔案』 。

操作 按鈕

6

輸入欲儲存的檔名即可。檔案名稱建議將分析方法中所分析的元素標示出?,並將設定 日期標注在檔名中,以方?將?分析時的方法選擇及追蹤。

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五、塊體分析(檢?線) 條件設定

A. 塊體分析(檢?線)視窗按鈕介紹
開啟分析條件檔案 定性分析(顯示分析能譜) 自動辨別(按 「定性分析」 後 才能使用) 能譜以對? log 顯示 結束這一批的?測,並?印 結果?據 輸出報告,將結果直接轉成 Word 檔案 ?印目前的分析視窗

儲存分析條件檔案

刪除目前分析條件

設定分析條件

開始?測 中止(測試中 需強制中止時 , 使用) 計算分析結果

影像視窗(顯示樣品影像) 主監察器(顯示主機感應器 電壓等?況) 環境設定(顯示定性條件、維 修保養等) 應用選單(顯示分析方法)

輸入標準物質

設定?測條件

標準物質?測鍵

快速計算結果

未知物質?測鍵

管制界限

結束(關閉軟體)

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B. 分析條件設定
步驟 1

操作?明 按『應用選單』

操作 按鈕

2

選擇『塊體分析(檢?線)』 ,即會出現塊體分析(檢?線)視窗。
3

按『開啟分析條件檔案』 出現「開啟分析條件檔案」視窗

4

原廠出廠前已經針對塑?中有害重?屬的分析,依所要分析的元素種?分別設定好 『P1000.bcc』檔案,選擇所要分析的條件即可。亦可依使用者實際需求,依下?方法 自?設定分析條件及方法。

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步驟 5

操作?明 按『分析條件』 ,出現以下的輸入分析條件視窗。

操作 按鈕

6

點選『手動設定』後,再按『

』 。

7

選擇必須分析的元素,?如 Cl、Cd、Pb、Hg、Br、Cr,再按『



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步驟

操作?明

操作 按鈕

8

選擇濃?的表示單位後,再按『

』 。

9

按『設定分析線』 ,設定各元素的分析線,分析條件的詳細設定?照如下: ※ 一般無需修改,依原廠設定即可,除非有元素干擾的?況發生.
元素 Cd Pb Hg Br Cr 管電壓 50kV 50kV 50kV 50kV 15kV ?波器 Cd 用 Pb 用 Pb 用 Pb 用 Cr 用 管電? Auto(自動管電?) Auto(自動管電?) Auto(自動管電?) Auto(自動管電?) Auto(自動管電?) 分析線 Ka La La Ka Ka

設定完成後,按『確定』即可。

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C. 標準物質輸入
步驟 1

操作?明 按『輸入標準物質』按鈕,出現以下的「輸入標準物質」視窗。

操作 按鈕

2

分別將原廠所附標準物質 PE BLK、PE100、PVC BLK、PVC100 的濃?值輸入在標準物 質表中。PE BLK 為 1;PE100 為 2;PVC BLK 為 3;PVC100 為 4. 再按『確定』後,出現以下對話視窗:

3

按『否』 ,即完成分析條件設定。

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D. 測?條件設定
步驟

操作?明 按『測?條件』 ,會出現以下設定測?條件對話視窗:

操作 按鈕

1

按『新增』 ,選擇 X 射線管電壓、第一回?波器及 Collimator 或修改測?時間. 按『詳情』 ,則可進?測?條件的詳細設定,測?條件的詳細設定?照如下:
管電壓/?波器 管電? Auto(自動管電?) Auto(自動管電?) Auto(自動管電?) 未知樣品 測定時間 100sec 100sec 100sec 標準物質 測定時間 400sec 400sec 400sec

2

15kV / Cr 用 50kV / Cd 用 50kV / Pb 用

以上為原廠設定,另外亦可依客戶需求修改內容.

3

X 射線管電?,建議點選『自動設定』 ,再按『下個條件』 ,每一個測?條件都點選『自 動設定』 ,測?時間未知樣品一般建議「100 秒」 ,標準樣品分析時間建議為「400 秒」 。
4

再按『確定』 ,即完成測?條件設定。
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E. 樣品分析輸出實? [測?條件]
測?系統 分析檔案 X-射線產生元素 SEA1000A P1000.bcc Rh 測?條件 1 測?條件 2 測?條件 3 測?時間(秒) 備用時間(秒) Collimator X-光管電壓(V) X-光管電?(μA) ?波器 週邊環境 100 73 5.0mm 15 1000 Cr 用 充氣 100 83 5.0mm 50 1000 Cd 用 充氣 100 66 5.0mm 50 102 Pb 用 充氣

[分析條件]
應用方式 塊體分析(檢?線)

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[X-射線能譜]
<測?條件 1 > 7.172 cps [ Linear ]

Cl

Cr

0.00 keV

40.00 keV

<測?條件 2 > 7.172 cps

[ Linear ]

Cd

0.00 keV

40.00 keV

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30

<測?條件 3 > 7.172 cps
Br

[ Linear ]

Hg Pb

0.00 keV

40.00 keV

[樣品影像]

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[分析結果]
成分 Cl Cd Pb Hg Br Cr 濃? 0.0(ppm) 0.0(ppm) 0.0(ppm) 0.0(ppm) 77103.1(ppm) 9.7(ppm) 判定 O.K. O.K. O.K. O.K. O.K. O.K. 強? 0.000(cps) 0.000(cps) 0.000(cps) 0.000(cps) 1247.960(cps) 1.014(cps)

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?、標準曲線的確認及?新
?目的:校正儀器由於環境的變化而引起的儀器的?態。 ?頻?:建議至少 1 次/週 (依客戶之需求而定) ?請按照以下的步驟確認標準曲線:(必要的話,請進??新)
步驟 1 2 3 4

操作?明 按『應用選擇』按鈕,再按『塊體分析(檢?線)』按鈕。 按『開啟分析條件檔案』,選擇『P1000.bcc』檔案。 按『未知樣品測?』模式。 將『標準物質 PE100』放置在樣品臺上,按『開始測?』按鈕。 ? Cd、Pb 定?結果與『標準物質 PE100』表示值之間的差?在「± 15%」以上的話, 請按照 6~16 的步驟進?標準曲線的?新。如果?需?新的話,請直接跳到步驟 17。 【關於 Hg、Br、Cr】

操作 按鈕

5

關於 Hg、Br、Cr,偏差稍大一些,所以請將界限值設定為「± 30%」。如果測?值超 出「± 30%」時,請反複測? 3 次,以進?確認。?測?結果的平均值對於 100ppm 有 偏?(±20%以上)時,標準曲線必需進??新。但平均值在 100ppm 左右的情況,則標 準曲線沒有進??新的必要。? 3 次測?結果的偏差值?常大時,可能是儀器發生問 題,此時請?繫 科邁斯科技(股)公司:TEL: 02-89901779 #2302.2303.2305 按『標準物質測?』模式。

6

7

按標準『No1』。

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步驟 8 9

操作?明 取出『標準物質 PE BLK』,放置在樣品台上,關閉樣品台蓋。 按『開始測?』按鈕。

操作 按鈕

10 測?完成後,按標準『No2』。 11 取出『標準物質 PE100』,放置在樣品台上,關閉樣品台蓋。 12 按『開始測?』按鈕。 13 對於『標準物質 PVC BLK、PVC100』,重複步驟 7~12 的操作。

14 待所有的標準物質都測?完成後,按保存按鈕,以將分析條件儲存。

輸入欲儲存的檔名即可,檔案名稱建議將分析方法中所分析的元素標示出?,以及將校 正日期標注在檔名中,以方?將?分析時的方法選擇及追蹤;確認檔案名稱未被?改, 然後按『儲存』按鈕,接著會出現下?視窗,再按『確認』即可。
15

請確認?新後的標準曲線。
16

請進?步驟 3~5 的操作,?執?後測得到的定?結果與『標準物質 PE100』表示值的 差?仍在「± 20%」以上的話,請?繫 科邁斯科技(股)公司:TEL: 02-89901779 #2302.2303.2305

17 以上步驟 1~16 的操作即為標準曲線的確認與?新步驟。

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34

七、管?值登記與?改
?請按照以下的步驟進?管?值的設定與?改:
步驟

操作?明 按『管制界線』按鈕,即會出現「管制值(Control Value)」視窗。

操作 按鈕

1

2

請於「基準 1」「基準 2」輸入適當的上限值及下限值,再按『確定』,完成管?值得 設定。往後測定時,軟體即會自動依管?值之上限值、下限值進?「OK」 「GRAY」、 、 「NG」等判定。無勾選「2 基準管?」時,則只有一個「基準 1」可輸入管?值, 往後測定時,則依管?值進?「OK」、「NG」。 ※ 在 『常規?測』 『HS 測?』 或 時,可設定?同之管制界限;但一個管制界限只對應一個?測條件。

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八、HS 測?之應用與設定

A、HS 測?按鈕介紹
未知物質?測鍵 ?印結果(list) 管制界限

定性分析(顯示分析能譜)

?印結果(Report)

顯示詳細資? 自動辨別(按「定性分析」後 才能使用) ESC-peak

設定選單

開啟分析條件檔案

開始?測 中止(測試中,需強制中止 時使用) 輸入樣品情報 結束這一批的?測,並?印 結果?據

儲存常規條件檔案

設置快速鍵

能譜以對? log 顯示

選擇分析檔案

設定?測條件

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B、HS 測定步驟
步驟 1

操作?明 點選『應用選單』

操作 按鈕

2

點選『HS 測?』
3

點選『輸入樣品情報』,出現以下視窗

4

點選紅圈處(選單),選擇欲?測的方法後,按下『開始測定』
5

輸入或選擇樣品訊息

※ ?測完會自動儲存於硬碟中.(一般會依月份儲存.?徑則依此? C:\DATA\2007\4) ?未批次結束,則儲存於 C:\DATA\Temp ※ 建議至少在每個月月底的最後一個工作天,做一次批次結束. ※ 一個批次只能測定 500 筆,即無法在儲存與測定.此時,請實?批次結束. ※ 此模式底下每筆結果皆會自?儲存多重能譜與詳細報告.通常能譜會儲存於 spec 資?夾中 報告則會儲存於 report 資?夾中.
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C、HS 測?檔案之轉檔與設定
※ 在此?測模式下,必需將檔案?型轉檔方能?測. 故塊體分析 FP 與塊體分析檢?線之條件 檔案皆需轉檔.
步驟 1

操作?明 按『設定選單』

操作 按鈕

2

出現以上視窗後,上圖紅圈處會變成開啟?態
3

點選『選擇分析檔案』,出現以下視窗

4

點選紅圈處,選擇檔案?型.(塊體 FP- bfp .塊體檢?線- bcc) ,選擇欲修改的檔案名稱,按『確定』.
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步驟 5

操作?明 點選『儲存常規檔案』,出現以下視窗

操作 按鈕

6

輸入檔案名稱後,按『儲存』(建議儲存相同之檔案名稱)
7

點選『設置快速鍵』

8

點選檔案名稱,再選擇檔案,並輸入標題,完成後按『確定』。(通常?屬與非?屬之 檔案皆要設定,標題可輸入中文或英文) ※ 可依?同客戶設定?同之管制界限,以?於判定.(請記得於修改後儲存檔案) ※ 可於測?條件中修改?測時間.
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九、校正程序
?校正部分可分為:強?校正、能?校正、解析?校正、照射口徑校正等四種校正。 ?目的:校正因環境的變化所引起的儀器?態的變動。 ?請按照下?步驟進?各項校正(強?校正、能?校正、解析?校正、照射口徑校正): A.功能?介紹:

結束鈕 開始鈕

FD-output Equipment Info 照射口徑校正 解析?校正 能?校正 強?校正

CCD 攝影機 主監察器 環境設定 應用功能選單 結束軟體

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40

A. 能?校正(頻?:一次/週)
步驟

操作?明 選取『應用選單』按鈕,按『 』進入校正功能.

操作 按鈕

1

2 3

取出粉紅色的『能?校正板』,取背面為粉紅色之能?校正版(較薄的那一個),放置 在樣品臺上,關閉樣品臺蓋。 按『能?校正』按鈕。 按『開始測?』按鈕。出現以下視窗:

4

等待能?校正正常完成,按『確定』。取出後,將校正板收好。 5

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B. 解析?校正(頻?:一次/週)
步驟

操作?明 取出黑色的『解析?校正板』,放置在樣品台上,關閉樣品台蓋。 按『解析?校正』按鈕。 按『開始測?』按鈕。 出現以下視窗:

操作 按鈕

1 2 3

4

等待直到分辨?校正正常完成,按『確定』。 5

6

從樣品室取出『解析?校正板』,並將其收好。

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C. 強?校正(頻?:一次/週)
步驟

操作?明

操作 按鈕

1

取出白色塑膠?的『強?校正板』,放置在樣品臺上,關閉樣品台蓋。 按『應用選擇』按鈕。

2

3 4

按『 按『強?校正』按鈕。

』按鈕。

按 『開始測?』 按鈕,接著會出現 『校正強?』 按鈕,選擇所有的管電壓,按『確定』。

5

校正終?即會出現『強?校正正常完成』的訊息,按『確定』即可。

6

7

從樣品室取出『強?校正板』,並將其收好。

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D. 照射口徑校正(頻?:一次/?)
步驟

操作?明 取出『照射口徑校正板』,放置在樣品台上,關閉樣品台蓋。 按『照射口徑校正』按鈕。 按『開始測?』按鈕。 校正終?即會出現『照射口徑校正正常結束』的訊息,按『確定』。 從樣品室取出『照射口徑校正板』,並將其收好。

操作 按鈕

1 2 3 4 5

※ 以上的校正結果?有任何?常情況,請先確認各校正板的使用是否正確無誤。?確 認無誤的話,請再一次啟動測?系統,等待 15 分鐘後,再重新進?一次校正。 ※ ?校正結果仍無法改善時,請?繫 科邁斯科技(股)公司 TEL: 02-8990-1779#2302.2303.2305

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十、附? 附?一、環境設定之功能介紹
在軟體主畫面右上之主工具?中,環境設定 之功能?明.在環境設定中有四個選項功能,分別

為定性、維修、Software、儲存系統. 在此分別介紹如下: A. 定性 – 可由此視窗中查看各個元素的測?條件
步驟

操作?明 A.選取該視窗左上方之定性

操作 按鈕

A

B

1

C

B. 點選此處,查看各元素之條件設定。(往下或往上) C. 以 Cr 為?,其條件為 15 kV、Cr 用?波器 ※ 檢測:設定為 Yes,表示當有其元素時,會在結果中顯示出?. 當設定為 No,則?會顯示. ※ 此設定是可以修改的。方式:在欲修改的元素?位上按?下,即可在該視窗中修改。 但建議請勿隨意修改,以免導致?測上的誤差。

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B. 維修 - 查看各項校正時間及光管等使用時?

※ X-光管: 代表光管使用時?。光管時?的計算以 X-ray key 開啟即計時。 ※ Mylar: 代表樣品台最內層之薄膜(此為方型 Mylar)使用時?。 一般在使用至 1000 小時 即需?換。此方型 Mylar 需由設備商?換,故當時間到期時,請通知科邁斯科技。 ※ Pin-Detector: 代表檢測器的使用時?。檢測器時?的計算則以儀器開機開始。 ※ Fan Filter: 代表儀器中間下方的風扇?棉使用時?。此?棉的清潔,需依客戶的使用?況 與儀器週邊環境?決定。通常大約一至?週清潔一次,清潔時,請使用 Air 槍即可,並在清潔 完後,按『?新』,重新計算。 C. Software – 可查看目前軟體的使用版本及設定?況。 D. 儲存系統–當電腦進入螢幕保護時的設定功能。

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附?二、HS測?輸出報告的製作與修改
HS測?之輸出報告與常規測?相同,皆為Office Execl之格式,通常在安裝時,就已有固定格式,但亦可依 客戶需要修改或新增其標題內容,其步驟與方式如下:

1.HS測?輸出報告總表的修改.
A. 標題?位的增加 除?可進?"樣品資訊"?的標題變?,而且還可補充標題?的情況下,按照以下的步驟進?操作。 而且,能夠補充的標題?為5 項。(最多十個標題?位) (1) 在已經啓動X-ray station軟體的情況,需先結束X-ray station軟體。此時,請務必進?批次結束處?。 (2) 變?每月的文件夾內的TotalReport.xls 的文件名或將其另儲存至其它位置. ?如,在2004 ?12 月內進?變?工作的情況下,變?C:\DATA\2004\12 文件夾內的TotalReport.xls 的名稱。變?后的名稱可以是任意的名稱。 (3) 刪除C:\DATA\Temp 文件夾內的Report.xls (4) 在進?現有標題項目變?的情況下,刪除C:\DATA\Setting 內的所有CBList*.txt *變成?字。在此前的標題?爲5 個的情況下,文件夾內有5個CBList1.txt~CBList5.txt 的文件。 如果僅僅單純在補充標題?,則?需要刪除文件。在同時進?變?和補充的情況下,請刪除這些 文件。 (5) 打開C:\DATA 文件夾內的ReportForm.xls 而且,在已經啓動X-ray Station軟件的?態下,?能夠打開ReportForm.xls,所以請注意。 (6) 選擇K ?和Q ?

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(7) 透過點擊?鼠右鍵,顯示功能表,選擇“取消隱藏〞

(8) 顯示L ?~P ?

(9) 編輯L3~P3 的單格內的內容,保存ReportForm.xls在增加標題時,從L3 開始,向右按順序進?增 加。能夠增加的標題,最多爲5 個。

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(10) 關閉ReportForm.xls,打開同一文件夾內的ReportLayout.txt 由於ReportLayout.txt 是文件格式,請應 用記事本等工具進?變?。

(11) 根據ReportForm.xls 的變?部分,變?下圖的指定部位 ?如,在增加3個標題的情況下,從左圖變?爲右圖。 ·變?前 ·變?後

請在TITLE(位?)和隨後的英文字母之間,輸入TAB。而且,英文字母和ReportForm.xls 的?相對應。 (12) 保存ReportLayout.txt,然後關閉

使用注意事項
在批次結束處?之前進?標題的變?的情況下,輸出的一覽表的顯示可能變成?碼。請在批次 結束處?後,開始新的測定之前,進?標題的變?。另外,在已經變?標題的情況下,每月的 測定記?所記?的TotalReport.xls 文件一覽表顯示可能變成?碼。在變?ReportForm.xls 的標題 之前,請變?TotalReport.xls 的檔案名,進?保存。

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2.詳細報告的修改與增加
即使在詳細報告的文件中,也能夠把“樣品資訊"中的標題進?變?。在定制?一覽表輸出的情況 下,按照下述的方式,即可進?變?。 詳細報告的文件有C:\DATA 文件夾內的DetailReportFormPlastic.xls 和DetailReportFormMetal.xls 2 個 文件。 在進?塑膠系?的樣品的測定報告時, 使用DetailReportFormPlastic.xls 文件。 在進??屬系?的樣品的測定報告時, 使用DetailReportFormMetal.xls 文件。 請在必要的文件中進?修改。 A.標題內容的變? (1) 在已經啓動X-ray station軟體的情況,需先結束X-ray station軟體。此時,請務必進?批次結束處?。 (2) 打開文件 打開 DetailReportFormPlastic.xls 文件,或者是 DetailReportFormMetal.xls 中的任一文件, 或者是?個文件。 (3) 編輯A8~A12 的各單格 請注意標題內容需與 ReportForm.xls 中的標題內容相同。

(4) 保存文件,並關閉

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B.標題內容的增加 在增加標題的情況下,按照以下的方式進?操作。 (1) 在已經啓動X-ray station軟體的情況,需先結束X-ray station軟體。此時,請務必進?批次結束處?。 (2) 打開文件 打開DetailReportFormPlastic.xls 文件,或者是DetailReportFormMetal.xls 中的任一文件,或者是?個 文件。 (3) 第12 ?和第13 ?之間插入? 插入增加標題部分的?(最多5 ?)。 (4) 進?整?,確認和上面的?相同 請把同?B~D ?的單格進?合併,並進?字元的左對齊。

(5) 編輯已經補充的A13~A17 的各單格 請注意標題需和ReportForm.xls 中標題相同。 (6) 在已經補充的A13~A17 的各單格中取名 選擇已經增加的標題?,在左上角的名稱對話方塊,輸入標題的名稱。名稱可以是TITLE6 ~TITLE10 中的任意一個。這一名稱和“附?二.A.標題?位的增加"的步驟11 相對應。

(7) 保存文件,並關閉

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附?三、Pb 受 As 干擾之處?方案(塊體分析檢?線)
?明︰在塑膠樣品測?中,有時會出現 Pb 的 Lα的波峰明顯高於 Pb 的 Lβ的波峰的情況,這表明 Pb 的 Lα會受到? As 的 Kα的影響,此時需要將 Pb 的分析線由 Lα改為 Lβ。如下圖所示︰

步驟 1

操作?明 按『應用選單』

操作 按鈕

2

選擇『塊體分析(檢?線)』 ,即會出現塊體分析(檢?線)視窗。
3

按『開啟分析條件檔案』

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步驟

操作?明 出現「開啟分析條件檔案」視窗,選擇所要設定的分析條件。

操作 按鈕

4

5

按『分析條件』 ,出現以下的輸入分析條件視窗。

6

點選『手動設定』後,再按『

』 。

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步驟

操作?明

操作 按鈕

7

按『



8

按『前進』

9

選擇所需?改分析線的元素,以?改 Pb 設定完成後,點選『設定分析線』 。
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步驟

操作?明 出現以下畫面,以?改為 Lb 為?,點選分析線成 Lb 後按『確定』

操作 按鈕

10

11 回步驟九之畫面,按『確定』鈕,已完成?改

,即可依 Lb 的分析線進?運算 12 按『開始』

※?已完成?測,則依 5~11 的步驟作完後,按下『檢?線計算』 ※載入多重能譜檔案,再依 5~11 的步驟作完後,按『檢?線計算』

,即可得到結果 ,可得結果

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附?四、如何儲存多重能譜
步驟

操作?明 ?測完樣品後,點選軟體左上方的檔案,選擇儲存多重能譜

操作 按鈕

1

圖一 點選後,於下圖二之 A 中輸入檔名.

2 A

圖二
3

按下儲存,即存下多重能譜

※請注意存檔?型,檢?線法基本上會有三個多重能譜,FP 法會有?個多重能譜. (測?條件設定幾個即會有幾個能譜) ※建議將多重能譜寄給我司時,請一併附上輸出的 WORD 檔與?測條件檔案.
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附?五、應用 X 射線螢光分析儀(XRF)?測各種樣品之分析方法建議
由於需要進?分析的材?樣品種?繁多,?同的樣品經常需選用?同的分析?測條件,?如:塊體分 析 FP 法、塊體分析檢?線法等,科邁斯科技特別針對各種材?樣品,提供分析建議,詳細內容如下:

一、分析方法與材?種?對照表
定?方法

材?種?

對象材?

材?部品實?

PP、PE、PS、PVC 等高分子 遙控器外殼 塑? 塑 ? 橡膠 紙?…等 鋁合? 輕 ? 屬 塊 體 分 析 檢 ? 線 法 塑?及?屬的複合材? ?接器 玻璃材? 其他材? 陶瓷材? 油墨 布?…等 MLCC IC 封裝晶體、晶片 LCD 面板 吊帶…等 鎂合? 按鍵 PCB 基板 包裝材…等 PC、Notebook 外殼 散熱鰭片…等 電線電纜

鋼材 塊 體 分 析 ? FP 法 屬 錫膏、錫球(Solder) 鈦合?…等 銅合?

開關?屬部件 ?接器 Pin 腳部分 ?絲 ?屬外殼…等

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二、各種材?分析時的注意事項
1. 塑?分析的注意事項 (1) X 射線對於塑橡膠的穿透?強,一般在 3 mm~10 mm 左右,因此建議塑橡膠之待測樣品的厚?最 好在 0.5 mm 以上,面積在 Φ5 mm 以上。?為小樣品,可取較多?個聚集起?,再一起?測; 太薄的樣品則可堆疊後再?檢測。 (2) 柱?的樣品(?如:電纜線),建議將樣品成縱向並排再??測。 (3) ?樣品中含砷(As)時,鉛(Pb)的分析線須改用 Pb_Lβ 分析線。

2. 塑?及?屬複合材分析方法的注意事項 (1) 因為 X 射線對?屬的穿透?約只有 100 μm 左右,甚至?低,因此欲?測塑?及?屬複材之樣 品時,建議塑?端要朝下測試,目的是讓 X 射線穿透塑?,否則可能會因 X 射線被?屬遮蔽而 無法?測到塑?基材。 (2) ?測塑?及?屬複合材時,最佳的?測建議是,將?屬及塑?部分分開測試。

3. ?屬部材(鎂、鋁合?除外)分析方法的注意事項 (1) ?屬材?建議以 FP 法?測。 (2) ??屬材?有表面處?時,?如:鍍鎳、鍍鋅等,欲測得內層的?屬成份,建議將外層的鍍層 去除後,再?檢測。

4. 鎂、鋁合?分析方法之注意事項 (1) ?測鎂、鋁合?之樣品時,採用塊體分析檢?線法即可;但由於基材與塑?性質?同,?測鎂、 鋁合?的準確性會比塑?差一些。 (2) ?鎂、鋁合?上有其他電鍍加工,?如:鍍鎳、鍍鉻等,建議可將外層的鍍層去除後,再?檢 測。

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附??

SEA1000A 故障處??程
故 障

按 維修"

鍵,選擇"5.

按 之後

鍵 再按 ,

選擇欲存入之位置,將 訊息存入磁碟片或硬碟



鍵,將監控台的

四個畫面存入 Execl

請將?據 E-MAIL 給科 邁斯科技工程師

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