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Halm系统


工艺部印刷段系列培训一

Introduction?to

培训时长:1.5小时 培训人:李积伟

整个系统由两层组成,硬件层 和软件层。 CetisPV‐CTL1主要控制着测试 电池片的Q1、Q2、Q3的原始 数据测量 数据测量。同时也控制着温度 时也控制着 度 传感器。 CetisPV C ti PV‐XF2 XF

主要控制着光强和 Flash?Monitor?Cell。 PC的PVCTContrl软件从二者得 到数据,分析、显示,并将分 档信息告诉Baccini。

设置准确的TKI(monitor?cell):
延迟时间

测量时间

Delay?time Measurement?Duration

曝光时间
Flash?Duration

光强的测量方法:

Comment: 选择光强稳定的位置进行测量 选择光强稳定的位置进行测量。 不同的母片有不同的TKImonitor cell.

三种不同的温度补偿方式可选。 三种不同的温度补偿方式可选 校准温度传感器,设置恰当的Offset.

A

V 1:设置合理的测量范围: 2:Load?amplifier: 电流大时应适当调小, 不然在此处会出现IV 曲线不全。
该时间指测试IV曲线的 所有时间。

Defines?the?load?range?of?the? load?amplifier?in?volts. For?compensating?the current‐dependent?voltage? drop.

讨论

Q2: Backward?Voltage?in?dark

Q3: Forward?Voltage?in?dark

RshuntLf
Rshunt light?forward?direction

RshuntDr
Rshunt dark?reverse?direction

RshuntDf
Rshunt dark?forward?direction

该值不是很可信,因为Isc较大,而需 计算其微小变化的斜率,误差较大。 只有在没有暗光测试曲线的时候可以 参考。

反向高电流范围内测量并阻,例如 20A反向电流,0到‐3V电压范围测量, 范围也可以修改的更大 范围也可以修改的更大。 对于电池片完全开路,则在此范围内 有极少的点,无法进行计算,这时采 用Urevmax和Irevmax计算RshuntDr。

H.A.L.M提供一种新的并阻测量方 式,暗光下测试加微小偏压,测量 正向特性。可采用如下设置: 向特性。可采用如下设置 电流范围33mA,测试电压范围‐ 1.2V到0.2V。当并阻很小时,电流 很容易超出范围,这是Halm不计 算该值 算该值。

RshuntDfDr:等于RshuntDf,当并阻很小导致无法计算RshuntDf时,用RshuntDr代替.

RserLf

RserDf

在光照下测量串阻, RserLf一 般通过Pmpp和Uoc之间的斜坡 计算。由于受到二极管的影响, 结果往往偏大 结果往往偏大。 当可以测试Q3,建议修改 RserLf的范围为1A到‐1A,来取 得更稳定的值RserLf。

受到二极管的影响,该值也往 往偏大。 该值很大程度上依赖于所设置 的电流范围。 范围应设置在Uoc对应电流左右。

该值往往偏小。因为光照情况下比暗 光下有更多的载流子,所以两者的二 极管特性有细微差别。 改值的测量不需要设置什么参数,但 要保证暗光下的电压特性曲线在‐Isc以 下。

RserIEC891
在Q1的该处更改测量的类型。

RserLfDfIEC

Double??curve?measurement
双重曲线测量

Tripple??curve?measurement
三重曲线测量

1000w/ m2

200w/m2

三重曲线测量采用 1000w/m2、5 500w/m2、 200w/m2三种光强进行 测量,然后两两之间按 照前面的方法进行计算, 最后求三者平均得到。 用暗光曲线代替200w/m2曲线 进行计算得到。

在Halm目前的测试状态下,可测试出 目前的测试状态下 可测试出RserLf,RserDf,RerLfDf和RserLfDfIEC四个值。 四个值 选用125S的单晶电池片做如下简单测试:

按上述范围更改参数 按上述范围更改参数, 然后测试五次,求平 均: 上述更改后,其他串 阻的测试结果均未发 生变化。

校准的核心理论 校准的核心理论: 输出电流与光强成正比。

校准过程:

正常测试中光强校正:

Eta?=?some?value‐ 1.07 1 07*k k

Isc?=?some?value?‐ 0.32*k 3

125S单晶电池片,修改K值后得到以上对应关系; 可以明显得看出Isc与K值一一对应关系(完全线性); 由于受到其他参数的影响,效率与K值并非严格对应,但趋势是一致的; 若Isc变化,Pmpp也会对应变化,且二者不变化量基本相当。

Halm

Driver

PVCTBin

PVCTConfig

PVCTData

PVCTLog

Sorter

Erma_IO_1388 HalmSolar

BinRoot

WorkBeam

Driver:当检测处电脑重新装系统后,从“设备管理器”中更新未知USB设备的驱动,驱动 程序在该文件夹下HalmSolar中,会连续安装三个设备。 中 会连续安装三个设备。 PVCTBin:包含应用程序和ini文件,一般启动*_std.exe程序,*_dep.exe程序是开发版本, 不建议使用,二者有微小差别(如串并阻的命名上); PVCTConfig g:包括分档文件和光强配置文件; PVCTLog:包括一些记录文件,其中的Calibration.log可以作为分析校准的原文件; Sorter:包括目前盒中和传送臂上电池片的相关信息,会随时变化,相当于临时文件。

在Batch B t h栏中,有如下选项: 栏中 有如下选项

选择后每测试一片会将对应原始测量数据存储至对应数据库存放位置,后 缀名为ppn,用“记事本”软件就可以查看。

?
?
?

D B D fi i i i i DataBaseDefinition.ini

该文件定义数据库内容的格式:

Variable[0 64]=数据库列名|软件测量参数值(Variable03=Record|Record) Variable[0-64]=数据库列名|软件测量参数值(Variable03=Record|Record)

?
?
?

DataGridDefinition ini DataGridDefinition.ini

该文件定义Batch栏下显示的格式:

Variable[0-32]=数值的宽度|软件测量参数值(Variable05=06|Eta) [ ] 数值的宽度|软件测量参数值( | )

?
? ?

LargeDispDataGridDefinition ini LargeDispDataGridDefinition.ini
该文件定义Sorter栏下显示的格式: 格式同上。


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